SEM圖像解讀-1
SEM圖像解讀-1 圖片本身給出的信息
前言
掃描電鏡作為一種重要的成像工具,最重要的輸出結果自然是圖像。在電鏡測試中,我們通常以看到圖像開始,也是以獲得和解讀圖像為終。所以本文將從圖像的一些簡單概念入手,最后由圖片信息判斷參數是否合適,以幫助讀者加深對掃描電鏡及圖像的認識和理解,也指導我們在拍攝時調節參數。
1 圖片給出的信息
1.1 圖像尺寸、像素、灰度和位深度
查看掃描電鏡的圖像,會發現圖像屬性的詳細消息中有很多術語。比如在圖1a中,就可以看到“分辨率”、“水平分辨率”和“位深度”等,它們分別代表什么意義呢?
在圖中,“分辨率”值為1280×960,即寬度方向和高度方向上像素數量的乘積,乘積算出的值就是像素數,即1280×960≈123萬(像素)。而“水平分辨率”和“垂直分辨率”,數值是256 dpi ,它們是在對應方向上一英寸上的像素數量,即像素密度(像素/英寸),其數值越高表示圖像的解析度越高。
需要注意的是,這些有關圖像的術語都不是我們通常談及的“電鏡的分辨率”,那是指分辨細節的能力。像素乘積的“分辨率”術語,在電鏡中被稱為Capture resolution、Data size或者Store resolution,本文使用圖像尺寸的概念來稱呼,以方便與“電鏡的分辨率”相區分。
圖1 圖像的尺寸和像素
我們可以在采集圖像前按需設置圖像尺寸。對于掃描電鏡原始圖像而言,尺寸太小(像素太少)的圖像特征粗糙、缺乏過渡,容易馬賽克化;而大尺寸的圖像可以在后期把圖像放得更大,并能觀察其細節、顏色過渡和層次感。但是掃描電鏡的圖像尺寸也不是越大越好,太多的像素會延長采集圖片的時間,或降低每個像素上的信號強度,以及導致圖像漂移等不利因素。
除非后處理著色,原始的電鏡圖像是黑白像,亦即灰度像。圖1b是一幅SEM圖像,通常在圖像下部有一些重要信息,比如標尺和電鏡參數等。如果我們將電鏡圖像放大,直至可以分辨出“棋盤格”上單個的方塊,如圖1c所示。此時每個獨立方塊就是一個像素(pixel,也被稱為picture element或者image element),它是圖像的最小單元,且只對應一個灰度值。
圖像上的特征識別基于像素間顯示的差別,因此每個像素的灰度值跟信號強度要一一對應,這首先需要對灰度值進行量化。對于黑白圖像,如果從弱到強分了256個灰度值(色階),設定最暗的是純黑(0),最亮的是純白(255),中間灰度值介于0~255之間,可以完全滿足人眼對灰度圖像的識別。參見圖1c所示的像素隊列及其對應的灰度值。
計算機使用二進制,十進制的256即28,對應二進制就是8位,即位深度值為8(見圖1a)。位深度通俗講就是顏色或灰度的梯度范圍。對于彩色圖像,因為彩色要分非常多的色階,位深度會比較高,通常為24。而對于電鏡圖像,因為是黑白像,故通常不需要那么多色階,通常為8,也可以按需設置較大的位深度。
1.2 放大倍數和標尺
作為顯微圖片,知道被放大了多少倍才能計算觀察物的尺寸,所以圖片會給出放大倍數。放大倍數的介紹見專欄6,它是圖像寬度跟樣品上掃描寬度子比,也是圖像像素跟樣品像素之比。按直覺,放大倍數越大,細節被放大的越大,但是有兩個問題需要注意:
一是放大倍數不是越大越好。放大倍數越大視場就越小。最重要的是,在很高的放大倍數下,樣品像素急劇變小,加上束斑尺寸和信號作用區的限制,受限于掃描電鏡分辨能力和樣品本身特征,圖像會變得模糊。還應根據特征的尺寸設置放大倍數和像素尺寸。在高分辨成像時,為滿足奈奎斯特采樣定律,應使樣品像素約為分辨率極限的三分之一或二分之一,甚至更小,從而使最小細節的顯示不受顯示的像素大小的限制。
二是放大倍數的定義存在差異:一種常用定義把像寬L設定為12.7 cm(早期沖洗照片的寬度),被稱為照片放大率(Photo magnification)或寶麗來(Polaroid)放大;另一種定義把L設定為顯示器上圖像的大小,被稱為屏幕放大率(Display magnification)。對同一物寬度l,兩種放大倍數顯然會存在不一致。如今的顯示器尺寸大于12.7 cm,所以后一種定義的倍率數值較大。
另外,對原圖像的顯示和處理會導致放大倍數變化,比如對圖像進行分割或放大。就如地圖要標識比例尺一樣,電鏡照片中也要有標尺(Scale bar或者Mini marker),如圖1b所示,標尺隨著圖像縮放,也有測量功能。因此,不同電鏡圖像間的尺寸比對應以標尺為參照,而不是單純通過放大倍數進行比較。如圖2使用Nano Measurer測量顆粒尺寸,軟件需要預先設置標尺,而不是給出放大倍數。
圖2 依據標尺測量顆粒尺寸
1.3 圖片中的參數信息
除了放大倍數和標尺外,掃描電鏡的圖片通常還會給出加速電壓、工作距離、探測器型號等關鍵信息。
圖3 圖片上的重要參數
知道這些信息,除了可以讓我們后續可以復現和對比實驗外,還能判斷圖片拍攝者參數設置是否合理,圖片質量跟參數有無關聯等,見本欄第三節內容。
2 圖片的亮度和對比度
有些廠家的圖片可以用記事本打開,除查看以上數據外還能查看很多參數,比如拍攝時的亮度和對比度,見圖4所示。
圖4 記事本打開圖片呈現的參數信息
對于掃描電鏡圖像,圖像亮度(brightness)指圖像的明亮程度,整幅圖灰度值越高則圖像越亮。而對比度(contrast)指的是最高和最低灰度值之間的差別,對比度越高,圖像越明銳、層次突出、樣品特征明顯。但是太高的對比度會導致部分區域過曝或者欠曝,也會讓噪點變得明顯。
為了獲得滿意的圖像,一般需要亮度和對比度搭配進行調節。以圖5錫球圖像的灰度/對比度調節過程為例。若圖像的位深度為8,則圖像灰度值的范圍為0~255,坐標軸上0為黑,255為白。我們拾取圖像中間處水平線的像素-灰度值曲線,然后進行灰度/對比度調節使得圖像更清晰,特征更明顯。
圖5 圖像的亮度/對比度調節原理
圖5a的圖像灰暗且特征不清晰,因為曲線整體的強度值不高,最高灰度值和最低灰度值的差別也不是很大。首先,使用亮度調節:通過增加信號的直流分量來提高曲線整體的強度值,使圖像整體變亮,但是圖像還不夠明銳、層次不突出,如圖5b所示。第二步可以調節圖像對比度:通過提高信號增益,使大部分信號都位于0~255的范圍內,從而得到清晰、明銳、層次分明的圖像,如圖5c所示。過度增加亮度或者增加對比度,會使灰度值超出探測器的動態范圍,出現過曝或欠曝的區域,丟失其中的細節信息,如圖5d所示錫球邊緣存在過曝。
在很多情況下,亮度值設置在50%左右,根據信號強度調節對比度,則較易達到滿意的效果。對于亮度/對比度的調節,若試樣表面平坦且各處差別不大,可以加大對比度,以突出特征區域;若試樣本身產生強烈的明暗對比,則可以降低對比度。需要說明的是,對圖像質量的判斷有很大的主觀,對比度/亮度調節可在反應客觀的前提下按個人喜好或者目的進行。
除了手工調節亮度/對比度外,目前的電鏡軟件都具有自動調節對比度和亮度的功能,或者直方圖修正工具、伽馬調節等手段。
3 由圖片信息判斷參數是否合適
許多時候需要比對圖片或者復現或改進實驗,此時先前圖片的信息可以提供很好的線索,用以判斷參數是否合適,需要在那些方面進行改進。
下邊舉幾個例子,并假設左側的圖片參數設置有問題,通過更改設置后得到較為理想的圖像。通過這些案例,反過來也告訴我們:合適的設置參數對圖像質量的影響。
3.1 加速電壓選擇不合適
加速電壓是極其重要的設置參數(專欄7),很多時候決定了表征的效果。
鋰離子電池隔膜為有機物材料(聚烯烴類),熔點不高,易受電子束輻照損傷,所以圖6左圖在高電壓下發生了變形,而且表面細節并不突出,將加速電壓降低得以改善。
圖6 鋰離子電池隔膜的圖像
圖7所示的樣品表面有些氧化層,使用背散射電子探測器(BSD/SSD/DBS),加速電壓太低時信號來自表層,加之探測器對高能電子更敏感,所以左圖并不理想。增加加速電壓可能得到理想的結果,如右圖所示。
圖7 拋光后鋼鐵的圖像
對于絕緣樣品,加速電壓選擇不合適也容易導致荷電。左圖荷電效應明顯,通過嘗試改變加速電壓,使得荷電效應減弱。
圖8 硅片上有機物的圖像
3.2 工作距離選擇不合適
工作距離是非常重要的設置參數(專欄6),在高倍時往往需要降低工作距離。左圖圖像質量較差,因為工作距離太大,降低工作距離后得到右圖,清晰度大為改善。
圖9 納米二氧化硅球(團聚)的圖像
3.3 束流等參數不合適
束流對圖像質量的影響也非常大(專欄7)。對于碳上的白金顆粒,左圖有些模糊,光闌(Aperture)選擇了7(對應 120 μm),在高倍時過大。選擇1(對應 30 μm),圖像清晰度和銳度大為改善。
圖10 碳上白金顆粒的圖像
3.4 探測器等參數不合適
場發射掃描電鏡中往往安裝多個探測器,特點鮮明。對一個不干凈的拋光金屬,左圖難以看到各晶粒的取向和晶界,反而能看到一些污染物。該電鏡的SE2探測器會接收一些二次電子,反映了較多表面信息。右圖使用了背散射探測器BSD,晶粒的取向和晶界清晰可見。
圖11 石墨烯上白金顆粒的圖像
3.5 亮度對比度調節不合適
對于石墨烯上的白金顆粒,左圖整體上細節不突出,銳度也不佳,一些小金屬顆粒也難以看到。顯示更多設置信息,并找到了原因:左圖的亮度值太高而對比度值又太低。調低亮度,增加對比度,右圖的圖像質量大為改善。還可以使用后處理,調節左圖的亮度/對比度。
圖12 石墨烯上白金顆粒的圖像
當然,圖片上不可能給出所有參數信息,有時還需要借助其他方式顯示更多參數,比如ImageJ/Fiji軟件及插件,也可以在電鏡軟件上增加顯示的設置參數。
在電鏡圖像中,不同區域間存在的明暗程度的差異,這些差異給我們提供信息,讓我們解讀圖像反映的樣品特征,下一篇專欄文章我們將會了解圖像的襯度。
精彩回顧
參考文獻
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