97国产在线播放-97国产精品最新-97国产精品视频观看一-97国产精品人妻无码久久久-97国产精品-97国产成人精品免费视频

400-850-4050

掃描電鏡高手進階之路

2023-04-18  瀏覽量:1209

 

SEM參數的統一亮度方程

 

前言

 

在眾多的電鏡參數中,有些容易量化和測量,如加速電壓、束流、工作距離、光闌孔徑,但是有些難以量化和測量如束斑、會聚角。有些參數可直接設定,又有些是被動設定,如束流、束斑和會聚角。

 

它們是彼此相關的,對于這種相關性的理解也伴隨著成像和分析,伴隨著對掃描電鏡成像的深化理解。亮度方程是溝通它們的橋梁。

 

1 會聚角和立體角

 

電子束在樣品表面的會聚,可以等效成如圖1所示三維的倒圓錐(此處忽略束斑大小)。圓錐角的一半定義為會聚角(Convergence angle),也被稱為會聚半角、收斂角或半張角等,一般用α表示,單位為毫弧(mrad)。三維上對應了立體角(Solid angle)的概念,是圓錐體在球表面截取的面積與球半徑平方之比,一般用Ω表示,單位sr。它們的幾何關系如圖2所示。

 

會聚時各幾何參數的關系

圖1 會聚時各幾何參數的關系

 

由圖示關系可知,會聚角一般由光闌孔徑和工作距離來進行限定,它正比于光闌孔徑,反比于工作距離。增加會聚角可以通過降低工作距離和選用大孔徑光闌來實現,降低會聚角可以通過增加工作距離和選用小孔徑光闌來實現。

 

電鏡的光闌孔徑一般為微米級,工作距離為毫米級,因此,電鏡的會聚角非常小,約為mrad或者0.1°這個量級,遠小于光鏡。

 

在信號探測和電子源中則較多關注立體角的概念。對于信號探測而言,大立體角利于信號收集,較大的探測器面積和較小的距離可以增加立體角。

 

相反,對電子源而言,若電子發散的立體角越大,電流密度就越低,通常希望電子源發射時立體角較小。因此,通過單位立體角和單位面積上的電流強度就比較重要,這就是電子光學的亮度方程。

 

2 亮度方程

 

2.1 電子光學的亮度方程

 

光學中光源亮度定義為單位投影面積上的光通量。光通量隨著發散角度和距離而變化,但是亮度不變,所以亮度反映了光源的屬性。對于白熾燈、LED燈和激光等光源,視覺告訴人們通常低功率的LED燈和激光比大功率的白熾燈還亮,說明亮度與光源類型相關。而且在某些條件下可以認為亮度不變,原理可以參見圖2。電子光學亮度(Beam brightness,Electron optical brightness或Gun brightness)與光學亮度對應,也反映了電子源的屬性,也可以視為守恒量。

 

亮度不變原理

圖2 亮度不變原理

 

對于某個電子源,由立體角的公式和亮度的定義可以導出亮度方程。亮度方程如下:

 

 

它揭示了加速電壓V、束流Ip、束斑dp、會聚角α、本征亮度Br和亮度B等重要參數之間的關系,其中會聚角α也與光闌孔徑和工作距離W存在關系。

 

2.2 亮度方程的運用

 

理解亮度方程有助于理解并靈活地進行電鏡的參數設置。

 

(1)對于不同電子源,電子源亮度越高,則在同等束斑下具有更高的電流強度。場發射電子源亮度遠高于熱發射電子源,在同樣束斑下,束流遠高于熱發射電子源,因此在高倍率下,場發射電鏡獲得的圖片信噪比更強、電鏡分辨率更高。

 

表1 電子源的亮度

電子源的亮度

 

對于使用熱發射源的鎢燈絲電鏡而言,同樣加速電壓下亮度低于場發射電鏡好幾個數量級。這也造成了在低電壓下,鎢燈絲電鏡的束流較小,成像效果差。為了提高亮度需要顯著提高加速電壓,但是電子束的動能越大與樣品的作用范圍越大,所以整體上鎢燈絲電鏡分辨率較低。

 

(2)同樣電子源,加速電壓增加,亮度也隨之增加,在束流相同的情況下可以獲得更小的束斑或會聚角,在束斑或會聚角相同的情況下可以獲得更高的束流,因此提高加速電壓是改善電鏡圖像質量的可選途徑之一。

 

(3)同樣電子源且加速電壓一定,亮度也就一定,束流Ip、束斑dp和會聚角α是聯動的,不能單獨變化:追求小的束斑dp會顯著降低Ip,既要小束斑dp又要不大幅降低Ip可以增加會聚角α(降低工作距離)。因此,在拍攝高倍高分辨圖像時,為了提高成像效果,可以降低工作距離(相當于提高了α);相反,使用大束流如做能譜分析時,在工作距離和α一定時,中低倍時圖像信噪比較好,但高倍時因為束斑較大,可能不如小束流時看得清楚。

 

許多現象都可以從亮度方程入手進行定性的解釋,讀者可以自行發揮。

 

加速電壓、束流和束斑的相關性涉及SEM成像和分析的操作參數設置。亮度方程將它們統一,也提示了掃描電鏡中需要折中的矛盾,即在高放大倍率時束流與束斑之間的矛盾:從信噪比和信號量考慮需要增加束流,但是從分辨率考慮需要降低束斑尺寸,這必然會影響束流。所以要對兩種參數進行妥協,除了采用場發射槍提高亮度外,加速電壓、會聚半角和駐留時間等參數也需要優化。

 

雖然有亮度方程,電壓、電流和束斑之間的關系仍比較抽象。類比有助于我們直觀地理解這些概念之間的關系。它們的關系可以用水管的水壓、流量和管徑來類比:如果水壓/電壓不變,減少管徑/束斑的同時難免會降低流量/束流;管徑/束斑不變,增加水壓/電壓會提高流量/束流。

 

3 亮度方程應用于實際問題

 

3.1 電壓、光闌和束流的關系曲線

 

圖3為某場發射掃描電鏡的束流實測值。通過a圖束流-光闌孔徑的關系曲線可見:束流隨著光闌的增加而迅速增加,隨加速電壓的增加而增加,這與亮度方程揭示的規律一致。所以能譜分析要選用較大(較之成像)光闌,高電壓也帶來更大的計數率,在中低倍成像時大光闌也帶來更好的信噪比。

 

 

通過b圖束流-加速電壓的關系曲線也可以歸納出同樣的規律。而且在光闌相同的情況下增加加速電壓,提高了電子光學亮度,束流增加,這也可以由亮度方程導出。隨之一提,在現代場發射電鏡中使用同樣的光闌,當降低加速電壓時,束流會下降但是不會下降太多。

 

 

當然,因廠家、技術的不同,實際電鏡束流-電壓-光闌的曲線更為復雜,未必遵循精確一致的規律。隨之一提,亮度方程適合定性解釋一些現象,但是很多情況都會導致亮度變化,如減速模式、鏡筒內加減速模式、大束流或極低加速電壓時空間電荷相互作用、球差等,所以精確、定量解釋沒有必要。

 

3.2 同樣電壓下不同工作距離(會聚角)的圖像

 

如圖4所示在高倍成像時(尤其是在使用低加速電壓),在較遠的工作距離下(圖示的7.5 mm)成像不太清晰,這可能有幾方面原因:從亮度方程考慮,過大的工作距離會導致小的會聚角,對應的束斑值變大;從鏡筒的電子光學考慮,透鏡的色差、球差、干擾等都隨著距離的增加而顯著增加。

 

工作距離對成像質量的影響

圖4 工作距離對成像質量的影響

 

在其他參數不變的情況下,可以縮短工作距離(如圖示的2.5 mm),導致會聚角變大,束斑變小(分辨率跟會聚角的關系并非線性,存在一個較佳的會聚角范圍);同時也降低了透鏡的色差、球差等負效應(球差、色差系數隨工作距離的降低而降低)。這些因素都使得圖像質量變好。

 

3.3 加速電壓升高時的圖像質量

 

碳上鉑催化劑顆粒如圖5所示。根據亮度方程,當其他條件一致時,加速電壓升高會增加電子束亮度,束流隨之增加,比如本圖從0.5 kV的40 pA增加到20 kV的90 pA。但是圖5中圖像整體的灰度基本上沒有變化。

 

不同加速電壓下的圖像

圖5 不同加速電壓下的圖像

 

那是因為低電壓條件二次電子產額更高(可回顧專欄5內容),所以圖像整體信號量變化并不是十分顯著。

 

參考文獻

 

(1) 施明哲. 掃描電鏡和能譜儀的原理與實用分析技術[M]. 電子工業出版社, 2015.

(2) 張大同. 掃描電鏡與能譜儀分析技術[M]. 華南理工大學出版社, 2009.

(3) 高尚,楊振英,馬清,等. 掃描電鏡與顯微分析的原理、技術及進展[M]. 廣州: 華南理工大學出版社,2021.

(4) Reimer L. Scanning Electron Microscopy — Physics of Image Formation and Microanalysis, 2nd [M]. Springer, 1998.

(5) Goldstein J, Newbury, D E, et al. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, 3rd[M]. Springer, 2003.

(6) Goldstein J, Newbury, D E, et al. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, 4th[M]. Springer, 2018.

(7) Ul-Hamid, A. A beginners' guide to scanning electron microscopy[M]. Springer, 2018.

(8) Suga M, Asahina S, Sakuda Y, et al. Recent progress in scanning electron microscopy for the characterization of fine structural details of nano materials[J]. Progress in Solid State Chemistry, 2014, 42(1): 1-21.

(9) Xing Q. Information or resolution: Which is required from an SEM to study bulk inorganic materials?[J]. Scanning, 2016, 38(6): 864-879.

(10) Liu Zheng, Fujita Nobuhisa, Miyasaka Keiichi,et al. A review of fine structures of nanoporous materials as evidenced by microscopic methods[J]. Microscopy, 2013(1):109-146

 

*** 以上內容均為原創,如需轉載,請注明出處 ***

 

簡介

MTT(美信檢測)是一家從事檢測、分析與技術咨詢及失效分析服務的第三方實驗室,網址:www.czyx888.com,聯系電話:400-850-4050。

 

  • 聯系我們
  • 深圳美信總部

    熱線:400-850-4050

    郵箱:marketing@mttlab.com

     

    蘇州美信

    熱線:400-118-1002

    郵箱:marketing@mttlab.com

     

    北京美信

    熱線:400-850-4050

    郵箱:marketing@mttlab.com

     

    東莞美信

    熱線:400-850-4050

    郵箱:marketing@mttlab.com

     

    廣州美信

    熱線:400-850-4050

    郵箱:marketing@mttlab.com

     

    柳州美信

    熱線:400-850-4050

    郵箱:marketing@mttlab.com

     

    寧波美信

    熱線:400-850-4050

    郵箱:marketing@mttlab.com

     

    西安美信

    熱線:400-850-4050

    郵箱:marketing@mttlab.com

深圳市美信檢測技術股份有限公司-第三方材料檢測 版權所有  粵ICP備12047550號-2

微信
主站蜘蛛池模板: 国产精品亚洲欧美一级久久精品 | 色台湾色综合网站 | 午夜在线观看免费高清在线播放 | 色在线免费| 欧美日韩视频二区三区 | 毛片大全高清免费 | 国产精品手机视频 | 午夜影院啊啊啊 | 大片免费观看在线视频 | 欧美影片一区二区三区 | 国产高清在线免费 | 天天干天天插 | 国产一级网站 | 永久免费视频v片www | 亚洲性另类| 一本久道久久综合多人 | 在线精品福利 | 美国人成毛片在线播放 | 亚洲欧美高清 | 在线午夜 | 免费观看日本视频 | 中文字幕日韩一区二区三区不卡 | 国产亚洲欧美一区 | 无遮挡一级毛片视频 | 日韩欧美a级高清毛片 | 二区国产 | 国产美女白嫩嫩在线观看 | 国产高清不卡一区二区三区 | 免费观看日本a毛片 | 最新亚洲人成网站在线 | 日韩精品一区二区三区在线观看 | 中文字幕在线视频网 | 日韩免费视频网站 | 大片免费看费看大片 | 在线视频中文 | 亚洲美女福利视频 | 午夜看毛片 | 国产在线欧美日韩一区二区 | 玖玖影院在线观看 | 午夜福免费福利在线观看 | 手机在线看片国产 |