超聲波掃描分析技術是目前能夠最大效益分析解決器件的結構缺陷、工藝及質量等問題的主要手段。可以檢測電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋、空洞等缺陷，廣泛應用于物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質量控制(QC)、質量保證及可靠性(QA/REL)、研發(R&D)等領域。

美信檢測將于9月23日（本周五）開展線上技術交流會，結合實際案例，分享超聲波掃描技術方法與典型應用！

本周五分享：SAT在元器件失效分析中的典型應用

課程大綱

1. 超聲波掃描介紹

2. 超聲波掃描的特點

        2.1 無損檢查的方法

        2.2 SAT與X射線檢查的區別

        2.3 超聲波掃描的常見的模式

        2.4 T模式與C模式成像區別

3. 超聲波掃描應用與案例分享

        3.1 掃描樣品要求

        3.2 在芯片內部分層的應用

        3.3 在PCB檢查的應用

講師介紹

曾工，美信檢測技術專家。從事芯片封裝解剖，元器件結構透視檢查，在封裝和測試方面有10年工作經驗。

會議詳情

時間：2022年9月23日 15:00

形式：直播互動，提供回看，請務必加入交流群！課程限時免費，同行莫入！

公眾號后臺回復“123”免費獲取聽課和入群資格！

長按識別二維碼回復：123