參會邀請 | 功能失效芯片的缺陷定位方法
2022-07-13 瀏覽量：248
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為助力高新技術產業發展，提升企業產品質量管控能力，美信檢測將于2022年7月28日參加由雅時國際商訊主辦的“現代檢測技術的創新發展與機遇”技術研討會。美信檢測半導體事業部總經理崔風洲將針對市場需求與行業發展要求，從檢測角度出發，與企業分享美信在業內的失效分析技術經驗。
會議詳情
會議時間：2022年7月28日
會議形式：線上直播
報名方式：掃描下方二維碼免費報名參會
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會議議程
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