先進(jìn)材料表征技術(shù)

先進(jìn)材料表征技術(shù)就是利用電子、光子、離子、原子、強(qiáng)電場(chǎng)、熱能等與固體表面的相互作用，測(cè)量從表面散射或發(fā)射的電子、光子、離子、原子、分子的能譜、光譜、質(zhì)譜、空間分布或衍射圖像，表征材料表面微觀形貌、表面粗糙度、表面微區(qū)成分、表面組織結(jié)構(gòu)、表面相結(jié)構(gòu)、表面鍍層結(jié)構(gòu)及成分等相關(guān)參數(shù)。

常用檢測(cè)技術(shù)

X射線能譜分析（EDS）、俄歇電子能譜分析（AES）、X射線光電子能譜分析（XPS）、動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜分析（D-SIMS）、飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析（TOF-SIMS）、聚焦離子束分析（FIB）、離子研磨拋光（CP）等技術(shù)。

您對(duì)上述檢測(cè)技術(shù)是否了解呢？遇到相關(guān)技術(shù)問(wèn)題該如何解決呢？例如：

如何表征材料的形貌、機(jī)構(gòu)、成分組成等？

如何避免樣品研磨面的應(yīng)力損傷和污染，以便獲得清晰的樣品斷面形貌，或進(jìn)行元素定性定量分析？

觀察器件引腳表面直徑大小不一的起泡現(xiàn)象（銅上鍍錫）進(jìn)行元素定性定量分析，該選用何種檢測(cè)分析技術(shù)？

鋁板表面鈍化膜中三價(jià)鉻與六價(jià)鉻的比例，對(duì)比不同環(huán)境對(duì)鈍化膜中鉻的影響是怎樣的？

如何測(cè)量金屬樣品表面多層鍍層的厚度以及成分分析？

屏幕組件上的有機(jī)污染物分析，推斷污染物來(lái)源，改善工藝，怎么做？

……

為了解答大家的疑問(wèn)，美信檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室本期（9月20日）的小型技術(shù)交流會(huì)將分享“生產(chǎn)研發(fā)中先進(jìn)材料表征技術(shù)的應(yīng)用及案例介紹”主題內(nèi)容，幫助技術(shù)人們系統(tǒng)化了解FIB、CP、XPS、AES、TOF-SIMS等技術(shù)的原理及應(yīng)用，以案例剖析的形式貫穿整個(gè)課題介紹：

生產(chǎn)研發(fā)中先進(jìn)材料表征技術(shù)的應(yīng)用及案例介紹技術(shù)交流會(huì)

課題介紹

1、FIB在截面樣品的制備、缺陷位置定點(diǎn)切割觀察方面的應(yīng)用

2、CP在平滑表面的樣品制備、超硬/超軟樣品的制備等方面的應(yīng)用

3、XPS在表面成分和化學(xué)態(tài)分析，污漬和變色的表面分析和涂鍍層深度分析方面的案例分析

4、AES在表面微區(qū)成分分析，小面積深度分析和薄膜成分分析的案例分析

5、TOF-SIMS在有機(jī)和無(wú)機(jī)材料表面的微量成分分析，表面異物分析的案例分析

會(huì)議詳情

時(shí)間：2019年9月20日  13:30-16:00

地點(diǎn)：美信檢測(cè)總部（深圳市寶安區(qū)北大方正科技園A3棟一樓會(huì)議室）

流程安排

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