（文章來源：嘉峪檢測(cè)網(wǎng)）

一、晶粒度概述

晶粒度表示晶粒尺寸大小的尺度。金屬的晶粒大小對(duì)金屬的許多性能有很大的影響。晶粒度的影響，實(shí)質(zhì)是晶界面積大小的影響。晶粒越細(xì)小則晶界面積越大，對(duì)性能的影響也越大。對(duì)金屬的常溫力學(xué)性能來說，一般是晶粒越細(xì)小，則強(qiáng)度和硬度越高，同時(shí)塑性和韌性也越好。

二、測(cè)定平均晶粒度的基本方法

一般情況下測(cè)定平均晶粒度有三種基本方法：比較法、面積法、截點(diǎn)法。具體如下：

1、比較法：比較法不需要計(jì)算晶粒、截距。與標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖進(jìn)行比較，用比較法評(píng)估晶粒度一般存在一定的偏差（±0.5級(jí)）。評(píng)估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1級(jí)。

2、面積法：面積法是計(jì)算已知面積內(nèi)的晶粒個(gè)數(shù)，利用單位面積晶粒數(shù)來確定晶粒度級(jí)別數(shù)。該方法的精確度在于計(jì)算晶粒度的函數(shù)，通過合理計(jì)數(shù)可實(shí)現(xiàn)±0.25級(jí)的精確度。面積法的測(cè)定結(jié)果是無偏差的，重現(xiàn)性小于±0.5級(jí)。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計(jì)數(shù)

3、截點(diǎn)法：截點(diǎn)數(shù)是計(jì)算已知長(zhǎng)度的試驗(yàn)線段（或網(wǎng)格）與晶粒界面相交截部分的截點(diǎn)數(shù)，利用單位長(zhǎng)度截點(diǎn)數(shù)來確定晶粒度級(jí)別數(shù)。截點(diǎn)法的精確度在于計(jì)算截點(diǎn)數(shù)和截距的函數(shù)，通過有效的統(tǒng)計(jì)結(jié)果可達(dá)到±0.25級(jí)的精確度。截點(diǎn)法的測(cè)量結(jié)果是無偏差的，重現(xiàn)性和再現(xiàn)性小于±0.5級(jí)。對(duì)于同一精度水平，截點(diǎn)法由于不需要精確標(biāo)記截點(diǎn)和截距數(shù)，因而較面積法測(cè)量快。

三、金相圖具體案例分析

以上只是大致的測(cè)定方法太過籠統(tǒng)，如果真的拿到一個(gè)具體的微觀照片，我們改怎么做呢？下面我們來看一下具體操作與計(jì)算方法。

1、確定照片的放大率

先測(cè)量微觀照片的尺寸，長(zhǎng)度或?qū)挾冗x擇其一，然后測(cè)量出試樣的實(shí)際長(zhǎng)度或者寬度，放大率=圖片距離/實(shí)際距離。

2、找出晶粒度級(jí)別數(shù)

計(jì)算出放大率之后就可以確定晶粒度級(jí)別數(shù)。首先要計(jì)算出試樣中的晶粒數(shù)。晶粒數(shù)=完整的晶粒數(shù) 0.5倍的部分晶粒數(shù)。完整晶粒的晶界都是可觀察到的。其次是計(jì)算出實(shí)際面積，實(shí)際面積=圖片長(zhǎng)/放大率×寬/放大率。根據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)中的計(jì)算公式：N=2(n-1)其中N指放大100倍下每平方英寸的粒數(shù)，n指晶粒級(jí)別數(shù)。進(jìn)行單位換算之后可得到N的指。最后可計(jì)算出晶粒級(jí)別n。

3、計(jì)算平均晶粒直徑

平均晶粒直徑=試樣的實(shí)際長(zhǎng)度/截取部分的晶粒數(shù)

實(shí)際長(zhǎng)度=截線長(zhǎng)度/放大率