8月10日,掃描電鏡(SEM)技術(shù)應(yīng)用與典型問題的深度解答!
微觀材料世界的極致美景
掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。
掃描電鏡(SEM)特點
1. 有較高的放大倍數(shù),20-20萬倍之間連續(xù)可調(diào);
2. 有很大的景深,視野大,圖像的分辨率高,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu);
3. 對于導(dǎo)電材料,可直接放入樣品室進行分析,對于導(dǎo)電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導(dǎo)電層。
4. 制樣簡單。
掃描電鏡技術(shù)在材料領(lǐng)域的應(yīng)用十分廣泛,能夠幫助客戶進行金屬材料斷口分析、材料納米級尺寸檢測、樣品表面形貌觀察與測量、電子材料切片分析、涂鍍層厚度測量、材料的顯微結(jié)構(gòu)分析等等方面的檢測,幫助企業(yè)有效監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量,改善工藝。
典型應(yīng)用案例展示
1. 金屬材料斷口分析。 通過對斷口微觀形貌的觀察,根據(jù)脆性斷裂及韌性斷裂機理,結(jié)合材料受力狀態(tài)分析,找出失效根源。
2. 材料表面形貌觀察與測量。通過掃描電子顯微鏡觀察材料表面形貌,為研究樣品形態(tài)結(jié)構(gòu)提供了便利,觀察的主要內(nèi)容是分析材料的幾何形貌、材料的顆粒度、及顆粒度的分布、物相的結(jié)構(gòu)等。
3. 材料的鍍層厚度測量。
金屬覆蓋層的厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質(zhì)量標(biāo)志,它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性,有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量,改善工藝,提高效益。
金屬制件和設(shè)備的表面覆蓋耐蝕非金屬保護層是金屬防腐蝕的重要手段之一。目的是將金屬 /環(huán)境界面代之以金屬/非金屬層/環(huán)境的界面,利用非金屬材料的耐蝕、抗?jié)B、緩蝕性能保護金屬免受環(huán)境的侵蝕,從而延長其使用壽命。
4. LED芯片的內(nèi)部構(gòu)造觀察
掃描電鏡(SEM)實際作用
對于企業(yè)來說,掃描電鏡(SEM)能解決哪些問題?為什么需要使用SEM進行檢測?
1. SEM在材料失效分析中起重要作用,幫助企業(yè)尋找產(chǎn)品失效的根本原因,進而改善產(chǎn)品質(zhì)量。
2. 利用SEM進行材料的形貌觀察與測量,有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量,改善工藝;幫助企業(yè)對產(chǎn)品的使用壽命和可靠性進行監(jiān)控;幫助企業(yè)快速獲取實際尺寸、檢驗產(chǎn)品質(zhì)量以及精確控制工藝流程。
3. 觀察檢測產(chǎn)品多處的涂鍍層厚度的精確數(shù)值,幫助企業(yè)判定產(chǎn)品質(zhì)量是否達標(biāo)。
4. 掃描電鏡在半導(dǎo)體行業(yè)中的應(yīng)用已經(jīng)深入到許多方面,有效幫助企業(yè)對產(chǎn)品質(zhì)量進行監(jiān)控,對失效問題進行分析。
由于掃描電鏡(SEM)在材料領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,對于不同的材料、需要檢測的方向及標(biāo)準(zhǔn)不同,對于樣品自身和測試條件的要求也是各異的,這造成了我們在應(yīng)用SEM分析中存在許多的未知問題和認知誤區(qū),如:
不同材質(zhì)的SEM樣品制樣要求是否一致?
利用SEM分析金屬材料斷裂失效,常見失效機理眾多,如韌窩斷裂、解理斷裂、滑移分離等等,如何判定?
材料的涂鍍層厚度測量,如何判定產(chǎn)品質(zhì)量是否達標(biāo)?
各涂鍍層材料的組分構(gòu)成對產(chǎn)品的影響有多大?
對材料進行形貌觀察與測量,具體的實際意義在哪里?
……
面對這么多的問題,如何才能解答?如何深度了解掃描電鏡(SEM)的分析應(yīng)用,避免進入認知誤區(qū)?
美信檢測在8月10日推出了一場以“SEM分析技術(shù)與CP制樣技術(shù)”為主題的小型專題技術(shù)沙龍,特邀關(guān)注此課題的嘉賓們前來參加!
幫助客戶針對性的對掃描電鏡(SEM)相關(guān)應(yīng)用知識進行深度解讀,同時幫助客戶識別SEM技術(shù)應(yīng)用中的誤區(qū),并進行規(guī)避,還將對相關(guān)存在疑問的內(nèi)容,進行專業(yè)解答!
課題內(nèi)容從掃描電鏡的原理與功能講解出發(fā),對其在現(xiàn)代科學(xué)與產(chǎn)業(yè)界的應(yīng)用進行分析,而后對掃描電鏡在分析中可能產(chǎn)生的誤區(qū)進行全面解答,最后詮釋顯微分析新技術(shù)及發(fā)展趨勢。
以案例講解為主,導(dǎo)入掃描電鏡原理與功能分析等知識點,分享分析技巧,幫助企業(yè)改進來料質(zhì)量和改善工藝,最終提高產(chǎn)品品質(zhì)!
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